Привет Пикабу! Давече досталась мне GTX 1080 от Palit серии GameRock Premium. Жил я с ней и радовался жизни без лучей и пятого анриала(да и фиг с ним).

В один прекрасный день у меня начала дохнуть СЖО от Corsair H100i v2(протечек не было, просто забились микроканалы и процессор начал долбиться в 95-100 градусов от игровой нагрузки, это далеко не первая моя вода и почти каждый раз она дохнет именно так) и я решил выкинуть жидкие идеи из головы и пойти за нормальным воздушным кулером под мой 8700k. Взял себе Thermalright Peerless Assassin 140, весит данное чудовище почти полтора килограмма и занимает весь мой немаленький Cougar panzer s, после установки данного чудовища и появился тот самый уникальный дефект, а именно:
Карточка в рандомный момент переходит в режим энергосбережения, то есть в режим шины PCI-E 1.1 и потребление ограничивается в 50w, и да, я в курсе что можно запустить игру, или Rednder test в GPU-Z или Furmark что бы карточка вышла из режима энергосбережения, ноооо... Ничего из этого не помогает! После того как карточка ловит этот баг она с ним остаётся до момента "передёргивания" карточки в слоте PCI-E.

Из истории карточки:
Она досталась мне от моего хорошего друга трудоголика, который играл в игоры в редкие свободные вечера и купил её новой во времена когда Хуанг ещё не рассказывал нам лучистые истории. Про майнинг мой друже знает ровно то что он существует ну и наверное всё =)
Карточка пока была у него в пользовании успела сломать ему слот PCI-E, когда он переезжал он перевозил компьютер в собранном виде(карточка была в слоте) и без вертикальной поддержки, по приезду слот работал в отвальном режиме, то есть компьютер мог пол часа поработать и потом вырубиться, а мог и целый день отработать без проблем, но вырубался компьютер постоянно, решили проблему просто поставив карточку во второй слот PCI-E.
По приезду ко мне я поставил карточку в свой второй ПК с материнской платой ASUS P8Z68 Deluxe(не GEN3, обычная! Это важно, дальше расскажу почему) и процессором i7 2700k где сходу словила баг перехода в режим энергосбережения, причём конкретно в этой плате "передёргивание" в слоте не помогало, карточка на постоянку была в режиме энергосберегайки.
После чего карточка переехала в мой основной ПК с Gigabyte Z370 HD3(Тогда я просто подумал что карточка не работает в PCI-E 2.0) и отработала год и не ловя подобных багов до момента покупки и установки нового кулера. Признаю, я мог немного надавить на карточку когда поджимал пружину крепления вертушки на кулере, но в этот момент карточка точно была с вертикальной поддержкой.

Теперь к тому что я делал:

1) Пробовал установить её в разные доски:
— ASUS P8Z68 Deluxe i7 2700k баг сразу и не лечится ничем
— Gigabyte z77-d3h i7 2700k бага нет сразу, каточка работает в PCI-E 2.0, но время от времени ловит баг
— Gigabyte Z370 HD3 бага нет сразу, каточка работает в PCI-E 3.0, но время от времени ловит баг

То есть выяснилось что карточка почему-то ловит данный баг сходу на материнской плате которая физически не умеет в PCI-E 3.0 и может работать только в либо PCI-E 2.0, либо в PCI-E 1.1.
А в материнской плате где теоретически возможна работа в режиме PCI-E 3.0, но стоит 2700k, который не умеет в PCI-E 3.0 карточка заводиться в режиме PCI-E 2.0, но со временем ловит баг

2) Пробовал разные версии Windows 10 и 11, лицензии естественно, чистая установка. Баг не зависит от OC

3) Пробовал разные прошивки:
— Биос родной
— Второй биос(с частотами Nvidia, без разгона)
— Биос с сайта TechPowerUp с тем же датакодом
— Биос с сайта TechPowerUp с более свежим датакодом
— Крякнутый биос от инженерной версии Asus STRIX из которого выпелен BOOST 3.0
Баг сохраняется на всех версиях биоса, которые я шил

4) Пробовал разные варианты поддержки карточки и в разных точках
— С поддержкой на самом правом краю
— Без поддержки
— С поддержкой между вентиляторами по центру карты
— С ослабленной поддержкой
— С усиленной поддержкой
Баг сохраняется

5) Пробовал три разных блока питания
— chieftec 1050w polaris
— Chieftec A-90 650W
— Thermaltake Toughpower Power Express 450W
— Thermaltake Toughpower Power Express 250W
Баг сохраняется

6) Пробовал разные модульные кабели, в том числе пробовал одной косой подключать или двумя, баг сохраняется

Единственное что лечит данный баг это вытащить карточку из слота и вставить обратно, но хватает этого на день +/-, при чём не важно работает ПК или нет, где-то часов через 12 карточка перестаёт потреблять более 50w и застревает в режиме PCI-E 1.1

Потом я сдался и отнёс карточку в сервис, названия говорить не буду, так как ребята реально постарались понять что с ней, потратили кучу времени трёх мастеров и вернули карточку в отличном состоянии, а так же вернули деньги за диагностику. Просто скажу что ребята имеют сервисы по всей России и специализируются на ремонте ноутбуков)

Ииии... В сервисе тоже не смогли понять что с ней, все напряжения на карточке поднимаются, все сопротивления в норме, кристалл без сколов, память определяется, трещин в текстолите нет. Если кто-то кто смотрел данную многострадальную карточку сидит на пикабу - welcome в комментарии, может сможете даже больше сказать о ней=)

Вот такая вот карточка, надеюсь на пикабу найдётся избранный, кто сможет понять что с ней =)

Я заметил это на 5-6 день после получения (заказывал на официальном сайте) и написал в поддержку. Там меня успокоили, что всё окей и так должно быть. Но я засомневался и всё-таки воспользовался бесплатным сервисом "Ремонт с доставкой" и отправил свой смартфончик в Москву (потому что с использованием этого сервиса устройство отправляется только туда).

Мне пришлось ждать целых полторы недели, пока он доедет только в одну сторону. И там тоже сказали, что всё нормально. При этом поговорили мы скомкано, потому что мне позвонили в 6 утра по моему времени, а я ещё спал до момента их звонка. В итоге я ждал ещё полторы недели, пока мне доставят смартфон. В сумме 3 недели я был без смартфона и ходил с «печенькой» 🥲.

Так и шло время, пока не наступила зима, и я в очередной раз не удостоверился, что это ненормально, — кнопки начали не нажиматься на морозе, а в теплом помещении ещё сильнее люфтить.

И да, чем же представляет себя люфт: кнопка громкости двигается во все стороны в плоскости грани и слегка проваливается в корпус с одной стороны. Кнопка же включения похожа на качелю-балансир, т.е. с одной стороны поднимается, другой опускается и выравнивается с корпусом, ну и также двигается в стороны.

Так вот, после зимы все эти симптомы стали сильней, и я решил летом снова обратиться в поддержку. Рассказал им эту историю и спросил, можно ли отправить в ближайший ко мне СЦ Huawei, в Хабаровск. На что мне ответили, что мне тогда придётся самому оплачивать доставку в обе стороны (1700-1800₽) и договариваться с ними. И это в то время, когда у меня ещё действует гарантия и обещанные «особое обслуживание и привилегии» как обладателю серии Pura 70.

Потом я решил попробовать провести экспертизу в городе Благовещенск (так как прочитал, что этим обязан заняться производитель/продавец по требованию потребителя) и написал в поддержку с этим предложением. На что мне ответили: «Когда вы это собираетесь делать?» — и не рекомендовали это, так как они не доверяют этим организациям (а кому тогда доверять? Вам, когда вы даже не смогли найти дефект в своём же устройстве?) 🙃.

Ну и недели 2-3 назад я написал письмо с этими вопросами в Роспотребнадзор. Мне несколько дней назад пришёл ответ о том, что у меня есть 2 выхода: либо связаться с производителем/продавцом, чтобы он сделал экспертизу ЗА СВОЙ СЧЕТ ПО ЗАКОНУ, либо идти в суд и подавать на них жалобу. И я не буду обязан платить НИКАКИХ ПОШЛИН за суд, так как это защита моих прав.
Сегодня отправил письмо с жалобой на все это с письмом Роскомнадзора, видео и фото дифекта кнопок и скрины переписки того, как меня мягко послали. В общем, если они соизволят провести экспертизу и она покажет что это производственный брак буду требовать с них компенсацию, мирно или через суд 😁. Пожелайте удачи.

Квантовые компьютеры уже давно перестали быть элементом научной фантастики. Ведущие мировые корпорации и лаборатории вкладывают миллиарды в их разработку, обещая нам революцию в медицине, создании новых материалов и даже в финансовой оптимизации. Но на пути к этому светлому будущему стоит одна фундаментальная проблема, известная как декогеренция. Представьте, что квантовая информация — это хрупкий мыльный пузырь: он переливается всеми цветами радуги, но исчезает от малейшего прикосновения.

И вот, учёные, кажется, смогли поймать за руку одного из главных «вредителей», который лопает эти пузыри. Впервые в истории исследователи смогли не просто догадаться о его существовании, а буквально увидеть его.

Ахиллесова пята квантового мира.

Чтобы понять масштаб прорыва, нужно разобраться с врагом. В мире сверхпроводящих квантовых схем — это одна из самых популярных и перспективных технологий — главным источником головной боли являются так называемые дефекты двухуровневых систем (ДУС).

Что это такое? Если говорить просто, это крошечные, микроскопические несовершенства в материалах, из которых сделана сама схема. Они ведут себя как микроскопические переключатели, которые хаотично меняют своё состояние. Эти «переключатели» создают электромагнитный «шум», который разрушает хрупкое квантовое состояние кубита — базовой ячейки квантового компьютера. Это и есть декогеренциямира.

Учёные знали об этих коварных дефектах более полувека. Они были как призраки: их присутствие ощущалось по последствиям — сбоям и ошибкам в вычислениях, — но никто не мог увидеть отдельного «призрака» и понять, как именно он портит всю картину. Это все равно что пытаться найти одну неисправную лампочку в гирлянде длиной в километр, не имея возможности включить её и посмотреть, какая не горит.

Микроскоп для призраков: как это работает?

И вот здесь начинается самое интересное. Команда из Национальной физической лаборатории Великобритании (NPL) вместе с коллегами из Швеции и Лондона создала инструмент, который позволил совершить невозможное. Они, по сути, построили «микроскоп для призраков».

Это не просто микроскоп в привычном нам понимании. Это сложнейшая установка, которая объединяет передовые методы микроскопии и работающую квантовую схему. Чтобы избавиться от любых посторонних помех, всю систему поместили в абсолютно тёмную, светонепроницаемую камеру и охладили до температуры, лишь ненамного превышающей абсолютный ноль (-273,15 °C). Зачем такие сложности? При такой температуре замирает почти любое тепловое движение атомов. Это создает идеальную «тишину», в которой можно услышать (а в данном случае — увидеть) шёпот одного-единственного дефекта.

Экспериментальная установка для визуализации TLS. (A) Схема нашей установки, показывающая острый зонд над работающей схемой, в которой находятся дефекты TLS. Дипольный момент TLS p⃗ связывается со схемой через микроволновое электрическое поле E⃗_mw. Зонд используется как для AFM-визуализации, так и для приложения локализованных электрических полей E⃗_DC. (B) Оптическое изображение сверхпроводящего подвесного резонатора 3λ/4, сформированного на плёнке NbN толщиной 40 нм на сапфире, который использовался в нашем исследовании. За более подробной информацией о топологии образца обратитесь к Дополнительным материалам. Жёлтый прямоугольник указывает на область сканирования. На врезке показана амплитуда микроволнового напряжения вдоль резонатора. (C) Широкоформатные топографические AFM-изображения работающей схемы, полученные в области, указанной чёрным квадратом в (B). Изображения получены при работе контура пропорционально-интегрально-дифференциального (PID) регулирования, поддерживающего постоянный сдвиг частоты за счёт изменения расстояния между зондом и образцом. (D) AFM-изображение с более высоким разрешением, полученное при 200 мК, на котором видны встречно-штыревые конденсаторы внутри резонатора. (E) Пример коэффициента микроволновой передачи S21(f), измеренного между портами, отмеченными как 1 и 2 в (B), вблизи резонансной частоты схемы f_res. Для обнаружения TLS во время сканирования используется гетеродинная схема считывания, которая измеряет передачу на частоте f_readout, незначительно отстроенной от f_res. (F) Обнаружение TLS. Сигнал передачи S21(f_readout) [цветовая шкала в произвольных единицах (a.u.)] как функция положения зонда выявляет яркий контур, соответствующий постоянному электрическому полю от зонда в месте расположения TLS в центре. Данные были получены при Z_tip = 15 мкм и V_tip = -10,25 В. Подробности см. в ориг. тексте. Цитирование: Marius Hegedüs et al., In situ scanning gate imaging of individual quantum two-level system defects in live superconducting circuits.Sci. Adv.11,eadt8586(2025).DOI:10.1126/sciadv.adt8586
Источник.

Круги на воде: что увидели учёные?

Когда исследователи включили свой прибор, они увидели нечто поразительное. Доктор Риджу Банерджи, один из авторов работы, описал это так, словно по поверхности схемы «плещется какая-то шумная жидкость». А на фоне этого «шума» проявились чёткие кольца, похожие на круги на воде от брошенного камня.

Каждый такой круг — это и есть визуальный след одного дефекта ДУС. Это его «отпечаток», который он оставляет, взаимодействуя с квантовой схемой. Впервые учёные смогли не просто сказать «где-то здесь есть проблема», а указать пальцем: «Проблема вот здесь, и выглядит она вот так».

Это меняет правила игры. До этого момента исследователи работали со статистикой — они знали, что в среднем на квадратный микрометр приходится столько-то дефектов. Теперь они могут изучать каждый из них индивидуально.

Детальное рассмотрение TLS.** (A и B) Изображения крупным планом кольца TLS полученные при (A) Z_tip = 10 мкм и (B) Z_tip = 5 мкм. (C и D) Два других TLS, обнаруженных в ином месте образца; оба изображения получены при Z_tip = 6 мкм. Обратите внимание на эллиптическую форму контуров на (A)-(D), чьи малая и большая оси (r_a и r_b соответственно) отмечены двусторонними стрелками. Контуры выглядят круглыми для дипольных моментов TLS, направленных преимущественно перпендикулярно поверхности образца, как, например, большое кольцо на (D). (E) H, большая и малая оси всех трёх эллипсов линейно сжимаются или расширяются в зависимости от приложенного к зонду напряжения. Прямые линии представляют собой линейную аппроксимацию данных. Из линейных аппроксимаций мы определяем, что соотношения их малой/большой осей (r_a/r_b) составляют: r_a/r_b = 0.95 для (A), 0.8 для (B), 0.8 для (C) и 0.9 для (D). Цитирование: Marius Hegedüs et al., In situ scanning gate imaging of individual quantum two-level system defects in live superconducting circuits.Sci. Adv.11,eadt8586(2025).DOI:10.1126/sciadv.adt8586
Источник.

От диагноза к лечению: что дальше?

Возможность видеть врага в лицо — это первый и самый важный шаг к победе над ним. Теперь, когда у учёных есть этот уникальный инструмент, открывается дорога к следующим этапам:

Идентификация.

Можно изучить химическую природу этих дефектов. Из каких именно атомов или молекулярных групп они состоят? Поняв это, инженеры смогут изменить технологию производства материалов, чтобы таких «вредителей» в них просто не появлялось.

Нейтрализация.

Возможно, получится найти способ «отключать» эти дефекты прямо в готовой схеме, не давая им влиять на кубиты.


Как метко выразился доктор Себастьян де Грааф, ещё один ведущий учёный проекта, «теперь у нас есть новый инструмент, с помощью которого мы можем гораздо больше узнать об этих неприятных дефектах».

Это исследование не обещает нам квантовый компьютер на столе уже завтра. Но оно устраняет одно из самых фундаментальных и давних препятствий на пути к его созданию. Это кропотливая работа по очистке «строительной площадки» для технологий будущего. И впервые за долгие годы у инженеров появился не просто план, а карта, на которой отмечены все ловушки и ямы. А это значит, что стабильные и по-настояшему мощные квантовые компьютеры стали ещё на один большой шаг ближе.

Источник: IXBTIXBT live