Запатентован способ диагностики нановключений в разных материалах
Ученым из Пензенского государственного университета совместно со специалистами из Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета "ЛЭТИ" удалось создать и запатентовать новый уникальный способ диагностики нановключений в тонкопленочных нанокомпозитах.
Представители институтов отметили, что разработка поможет создавать материалы нового поколения. Ее можно будет применять в микро- и наноэлектронике.
В involta.media добавили, что качественная диагностика необходима для прогнозирования влияния внешних факторов на их свойства.